SZ901納米粒度及Zeta電(diàn)位(wèi)分析(xī)儀(yí) SZ901是在SZ900基礎上基(jī)於多(duō)年(nián)的科(kē)研(yán)成果開(kāi)發(fā)的新一代納(nà)米(mǐ)粒度(dù)和Zeta電(diàn)位(wèi)分析係(xì)統,采(cǎi)用(yòng)動態光散射(shè)(DLS)和電(diàn)泳(yǒng)光(guāng)散(sàn)射(ELS)原(yuán)理分別(bié)進行(háng)納(nà)米粒(lì)度(dù)測量(liáng)和(hé)Zeta電(diàn)位(wèi)分析,被(bèi)廣泛應用於有(yǒu)機(jī)或無機納(nà)米(mǐ)顆粒(lì),乳(rǔ)液,高分子聚合(hé)物(wù),膠束(shù),病(bìng)毒抗體及蛋(dàn)白(bái)質(zhì)等樣(yàng)品的顆粒表(biǎo)征及(jí)樣品體係穩(wěn)定(dìng)性及顆粒團聚(jù)傾向(xiàng)性(xìng)的(dí)檢(jiǎn)測和分(fēn)析(xī)。