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納米粒(lì)徑(jìng)及Zeta電位分(fēn)析儀Nicomp  Z3000介紹

      NICOMP 380 Z3000納米(mǐ)粒徑與(yǔ)電位分析(xī)儀(yí)采(cǎi)用(yòng)*設計(jì)理念優(yōu)化(huà)結(jié)構設計，充分有效(xiào)地融合了動態(tài)光散(sàn)射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳(yǒng)光散(sàn)射(ELS)技術，即可以多角度(dù)（步長0.9μm;）檢測(cè)分(fēn)析(xī)液態(tài)納米顆粒(lì)係的(dí)粒(lì)度(dù)及粒(lì)度分(fēn)布，又可以(yǐ)小角(jiǎo)度(dù)測量Zeta電位。粒度測(cè)試(shì)範(fàn)圍：粒(lì)度(dù)測試範(fàn)圍：0.3 nm – 10 µm。

       NICOMP 380 Z3000納米(mǐ)粒(lì)徑與(yǔ)電位分析(xī)儀通過檢測分(fēn)析膠(jiāo)體顆粒(lì)的電泳(yǒng)遷移率測(cè)量Zeta電位。Zeta電(diàn)位是對顆(kē)粒(lì)之間相互(hù)排斥或吸引力(lì)的(dí)強(qiáng)度(dù)的度(dù)量，是(shì)表(biǎo)征膠體(tǐ)分散(sàn)係(xì)穩(wěn)定性(xìng)的重(zhòng)要(yào)指標(biāo)，Zeta電位（正或(huò)負）越高(gāo)，體(tǐ)係越(yuè)穩(wěn)定。Zeta電位(wèi)表征的(dí)是粒(lì)子之(zhī)間的(dí)排斥(chì)力(lì)。由於大部分的(dí)水相(xiāng)膠體(tǐ)體係是(shì)通過粒(lì)子之間(jiān)的靜電排斥力(lì)來(lái)保持穩定(dìng)的，粒子之(zhī)間(jiān)的排斥力越大，粒子(zǐ)越(yuè)不容易發生聚集(jí)，膠體(tǐ)也會(huì)越(yuè)穩(wěn)定。NICOMP 380 Z3000結(jié)合了動(dòng)態(tài)光(guāng)散射技(jì)術（DLS）和(hé)電(diàn)泳(yǒng)光散(sàn)射法(fǎ)（ELS），實現了同機測(cè)試(shì)納米(mǐ)粒(lì)子(zǐ)分布(bù)和Zeta電勢(shì)電(diàn)位。

應用(yòng)行(háng)業(yè)：磨料，化(huà)學機(jī)械拋光(guāng)液(yè)，陶瓷，粘(nián)土，塗料(liào)，汙染(rǎn)監測(cè)，化妝(zhuāng)品(pǐn)，乳(rǔ)劑(jì)，食品(pǐn)，液體工(gōng)作介質/油，墨水，  乳液(yè)，色漆，製藥(yào)粉體(tǐ)，顏(yán)料，聚(jù)合物(wù)，蛋(dàn)白質大分(fēn)，二(èr)氧(yǎng)化(huà)矽(guī)以及(jí)自組裝(zhuāng)TiO_2納(nà)米管(guǎn)(TNAs)等

自(zì)動滴定儀

NICOMP 380 Z3000納(nà)米(mǐ)粒徑與電(diàn)位分析儀在增加(jiā)自(zì)動(dòng)滴(dī)定模塊後(hòu)，可(kě)以(yǐ)一次性使(shǐ)用同(tóng)一樣品(pǐn)在不同PH值(zhí)或不同(tóng)離(lí)子(zǐ)濃(nóng)度的(dí)條件下(xià)進(jìn)行(háng)一係(xì)列測試，實現了在(zài)等(děng)電點測試(shì)的技(jì)術難題。

相(xiāng)位分析光散(sàn)射(shè)法(fǎ)PALS（Phase Analyze Light Scattering）技(jì)術(shù)

PSS 於 2004 年推出林先的(dí) PALS 技(jì)術，用(yòng)相位(wèi)（Phase）變(biàn)化的分析取代(dài)原 先頻(pín)譜的(dí)漂(piāo)移，不僅(jǐn)使(shǐ) Zeta 電位(wèi)分析(xī)的(dí)精度(dù)及穩(wěn)定性有了顯(xiǎn)著(zhù)的(dí)提(tí)高(gāo)，而且突破(pò)了水相體係(xì)的(dí)限製，對油，有機物(wù)體係(xì)同樣(yàng)能(néng)提(tí)供 Zeta 電位(wèi)的分析(xī)。

NICOMP 380 Z3000 納(nà)米粒徑(jìng)與電(diàn)位(wèi)分(fēn)析儀(yí)特(tè)點

同(tóng)機測(cè)試懸(xuán)浮(fú)液體(tǐ)的粒徑(jìng)分(fēn)布以及ZETA電(diàn)勢電(diàn)位(wèi)

Zeta電位(wèi)運用(yòng)了(liǎo)多(duō)普勒(lè)電泳(yǒng)遷移原(yuán)理以及(jí)的(dí)相位(wèi)分析散(sàn)射法可以測試(shì)水(shuǐ)相(xiāng)和(hé)有(yǒu)機(jī)相的(dí)樣品

檢測範圍寬廣，亞(yà)微米顆粒均(jūn)可(kě)以(yǐ)被檢測(cè)

樣(yàng)品測(cè)試量(liáng)小

高(gāo)辨(biàn)析率

結(jié)果(guǒ)重現性好，誤(wù)差小(xiǎo)於(yú)1%

100 % 樣品(pǐn)可(kě)回收(shōu)li用

可搭(dā)載自(zì)動(dòng)滴(dī)定儀, 自動(dòng)稀釋器(qì)和自(zì)動(dòng)進樣器

無(wú)須校準

一次(cì)性(xìng)進樣(yàng)，避(bì)免交叉汙染樣品(pǐn)

可(kě)選配大功(gōng)率激光(guāng)發(fā)生器以及jun品(pǐn)級(jí)APD雪崩二極管(guǎn)檢(jiǎn)測器來(lái)檢測粒(lì)徑小(xiǎo)於1nm的(dí)顆(kē)粒

技(jì)術(shù)參(cān)數：

電泳光散(sàn)射法（ELS）與粒(lì)子的(dí)動(dòng)電（Zeta）電(diàn)位：

      ELS 是將(jiāng)電泳(yǒng)和光散(sàn)射結合起來(lái)的一(yī)種(zhǒng)新型(xíng)光散射(shè)。它的光(guāng)散(sàn)射理(lǐ)論(lùn)基礎是 準彈(dàn)性碰(pèng)撞(zhuàng)理論，隻(zhī)是在實(shí)驗(yàn)時(shí)在(zài)式樣(yàng)槽中(zhōng)多(duō)加(jiā)一個外電場(cháng)，帶電粒子即以固(gù)定 速度(dù)向(xiàng)與帶(dài)電粒子(zǐ)電性相(xiāng)反的電(diàn)極(jí)方向移動(dòng)，與之相(xiāng)應的動力光(guāng)散射光譜產(chǎn)生(shēng)多(duō)普勒漂(piāo)移，這(zhè)一漂移正比(bǐ)於(yú)帶電(diàn)粒子(zǐ)的移(yí)動速度(dù)，因此(cǐ)實(shí)驗測得(dé)譜綫的漂移，就(jiù) 可以(yǐ)求(qiú)得帶(dài)電粒子(zǐ)的電(diàn)泳速度，從而(ér)求得(dé)ζ-電位。

相位分析(xī)光散(sàn)射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技(jì)術

PSS 於 2004 年推出林(lín)先的(dí) PALS 技術，用相(xiāng)位(wèi)（Phase）變化(huà)的分(fēn)析(xī)取代(dài)原 先(xiān)頻譜的漂移(yí)，不(bù)僅(jǐn)使(shǐ) Zeta 電位分析的精(jīng)度(dù)及(jí)穩定性(xìng)有了(liǎo)顯(xiǎn)著的提(tí)高，而(ér)且(qiě)突破了水(shuǐ)相(xiāng)體係的(dí)限製，對油(yóu)，有機(jī)物體係同樣(yàng)能提供 Zeta 電(diàn)位的(dí)分析(xī)。

動(dòng)態光(guāng)散射原理

Nicomp 380納米粒徑分析(xī)儀采用(yòng)動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理來獲得(dé)範圍(wéi)在0.3 nm到10 μm的膠體(tǐ)體(tǐ)係(xì)的(dí)粒度分布。DLS是通(tōng)過(guò)一(yī)定(dìng)波(bō)長(cháng)的(dí)聚(jù)焦激光(guāng)束照(zhào)射在懸(xuán)浮於(yú)樣(yàng)品溶液的粒子上麵，從而(ér)產(chǎn)生很(hěn)多的散射光(guāng)波(bō)。這些光波(bō)會互相(xiāng)幹(gān)涉從(cóng)而影(yǐng)響(xiǎng)散射強(qiáng)度，散射(shè)強度隨時間(jiān)不(bù)斷(duàn)波動，二(èr)者之間(jiān)形成一定(dìng)的函(hán)數關係(xì)。粒(lì)子(zǐ)的擴散現象（或布朗(lǎng)運(yùn)動(dòng)）導致(zhì)光(guāng)強不斷(duàn)波動。光(guāng)強的變化(huà)可以(yǐ)通過探測(cè)器檢測得(dé)到。使(shǐ)用自相(xiāng)關器(qì)分析隨(suí)時間而變(biàn)的(dí)光(guāng)強波(bō)動(dòng)就(jiù)可(kě)以得(dé)到(dào)粒(lì)度分布(bù)係數(shù)（Particle size distribution, PSD）。單(dān)一(yī)粒(lì)徑分(fēn)布(bù)的自相關函(hán)數是(shì)一(yī)個指(zhǐ)數衰(shuāi)減函(hán)數，由此可以很容(róng)易通(tōng)過衰(shuāi)減(jiǎn)時間(jiān)計(jì)算得(dé)到(dào)粒子擴散率(shuài)。蕞終(zhōng)，粒子(zǐ)的(dí)半(bàn)徑(jìng)可以很容易(yì)地通(tōng)過(guò)斯(sī)托克斯（Stokes-Einstein）方程式(shì)計算得到。

如下是Nicomp 380納米粒徑分析儀的檢測原理(lǐ)簡圖：

大部分樣品一(yī)般(bān)都(dū)不均匀，往(wǎng)往(wǎng)會(huì)呈(chéng)現多分散體係(xì)狀態(tài)，即測出來(lái)的粒徑(jìng)正(zhèng)態(tài)分(fēn)布範(fàn)圍(wéi)會(huì)比較大，直觀的(dí)呈現是粒徑(jìng)分布峰比(bǐ)較寬。自相(xiāng)關(guān)函數是由(yóu)多組(zǔ)指數衰減函(hán)數綜合組(zǔ)成(chéng)，每一個指數衰(shuāi)減(jiǎn)函數都會因指數衰減(jiǎn)時間(jiān)不同而存在差異(yì)，此時計算自相(xiāng)關函數就變得不再簡(jiǎn)單(dān)。

Nicomp 380納(nà)米粒(lì)徑分(fēn)析(xī)儀巧妙運用了(liǎo)去卷積算(suàn)法(fǎ)來轉(zhuǎn)化原始數據，從而(ér)得出蕞(zuì)接(jiē)近(jìn)真實(shí)值的(dí)粒度(dù)分(fēn)布。Nicomp 尤(yóu)其(qí)適(shì)合測試粒(lì)度分布復(fù)雜(zá)的樣品體係，li用(yòng)一(yī)組(zǔ)*的(dí)去卷(juàn)積算法將(jiāng)簡(jiǎn)單的(dí)高斯正態分布(bù)模擬(nǐ)成高分(fēn)辨率(shuài)的多(duō)峰(fēng)分(fēn)布模(mó)式，這(zhè)種(zhǒng)去(qù)卷積分(fēn)析方法(fǎ)，即(jí)得到(dào)PSS粒度儀公司*的粒(lì)徑分布表達方法(fǎ)—Nicomp分布(bù)（Nicomp Distribution）。

有些儀器的高(gāo)斯分析模式可以使用基綫(xiàn)調整參(cān)數的功(gōng)能(néng)，以此來補償測試(shì)環境(jìng)太髒(zàng)而超出儀器(qì)靈(líng)敏(mǐn)度的問(wèn)題。高斯分析模式也可以允許使(shǐ)用(yòng)者(zhě)“固體重(zhòng)量模式"或者(zhě)“囊泡(pào)重(zhòng)量模式(shì)"來(lái)分析帶有小(xiǎo)囊泡的膠(jiāo)體體係(xì)，比如(rú)脂質(zhì)體。

Nicomp分(fēn)析方法(fǎ)是一種專(zhuān)li的(dí)高(gāo)分辨率(shuài)的(dí)去卷積算法，它*在1990年(nián)提(tí)出並應用於分(fēn)析和統(tǒng)計(jì)粒徑(jìng)分布(bù)。在歷*已經證明(míng)Nicomp分析方(fāng)法能夠精確分(fēn)析非常復雜的(dí)雙(shuāng)峰(fēng)樣品分散(sàn)體係（比如(rú) 2：1比例(lì)），甚(shèn)至(zhì)是三峰(fēng)樣品(pǐn)分散(sàn)體係。在(zài)科(kē)學(xué)研究(jiū)中(zhōng)，找到粒(lì)子聚(jù)集分布的雜(zá)峰(fēng)是(shì)非常(cháng)有用的。

NICOMP 380 Z3000納(nà)米粒徑與電位分析儀廣(guǎng)泛(fàn)適(shì)用於檢測(cè)懸(xuán)浮在水相和有(yǒu)機相的顆粒(lì)物(wù)。